SJ 2215.7-1982 半导体光耦合器集电极－发射极反向击穿电压的测试方法
时间:2024-05-15 06:22:43 来源: 标准资料网 作者：标准资料网 阅读：9532
基本信息
| 标准名称： | 半导体光耦合器集电极－发射极反向击穿电压的测试方法 |
| 英文名称： | Method of measurement for collector-emitter reverse breakdown voltage of semiconductor photocouplers (diodes) |
| 中标分类： |
通信、广播 >>
通信、广播综合 >>
技术管理 |
| 发布日期： | 1982-11-30 |
| 实施日期： | 1983-07-01 |
| 首发日期： | 1900-01-01 |
| 作废日期： | 1900-01-01 |
| 出版日期： | 1900-01-01 |
| 页数： | 1页 |
适用范围
没有内容
前言
没有内容
目录
没有内容
引用标准
没有内容
所属分类： 通信 广播 通信 广播综合 技术管理
基本信息
| 标准名称： | 工业探伤用 X 射线管 通用技术条件 |
| 英文名称： | General specification for X-ray detection apparatns for industry |
| 中标分类： |
仪器、仪表 >>
试验机与无损探伤仪器 >>
X射线、磁粉、荧光及其他探伤仪器 |
| ICS分类： |
试验 >>
无损检测
|
| 替代情况： | ZB N78002-86 |
| 发布日期： | 1998-06-15 |
| 实施日期： | 1998-12-01 |
| 首发日期： | 1900-01-01 |
| 作废日期： | 1900-01-01 |
| 归口单位： | 辽宁仪表所 |
| 出版日期： | 1900-01-01 |
| 页数： | 14 页 |
适用范围
没有内容
前言
没有内容
目录
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引用标准
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所属分类： 仪器 仪表 试验机与无损探伤仪器 X射线 磁粉 荧光及其他探伤仪器 试验 无损检测
基本信息
| 标准名称： | 工艺系统专业在工程设计各阶段与其它专业的关系 |
| 中标分类： |
|
| ICS分类： |
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| 发布日期： | 1994-08-03 |
| 实施日期： | 1996-03-01 |
| 首发日期： | 1900-01-01 |
| 作废日期： | 1900-01-01 |
| 出版日期： | 1900-01-01 |
| 页数： | 6页 |
适用范围
没有内容
前言
没有内容
目录
没有内容
引用标准
没有内容
所属分类：